Microelectronic manufacturing yield, reliability and failure analysis IV - 23-24 September 1998, Santa Clara, California
- Författare
- Tohru Tsujide Hans-Dieter Hartmann Sharad Prasad
- (Sharad Prasad, Hans-Dieter Hartmann, Tohru Tsujide, chairs/editors.)
- Genre
- Konferenspublikation, Konferenser, Ej skönlitteratur
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Cop. 1998 | USA | 240 sidor. |